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Centre commun de microscopie de Lille

Unité Matériaux et Transformations

Directeur : Damien Jacob

Réservations Système de réservations du CCME
Société Française des Microscopies
Groupement des Utilisateurs de Microscopes Electroniques Philips
Centre Commun de Microscopie de Lille

Présentation

Titan Themis: Atomically resolved EDS mapping of an oxide. M. Huvé, M. Marinova
 
Image TEM haute résolution d'une exsolution dans un cristal de silimanite
 
 
 

Le CCM de l'Université Lille 1 regroupe une grande partie des moyens en microscopie de l'université. L'activité des laboratoires partenaires se situe dans les domaines de la Science des matériaux, de la Métallurgie, de la Chimie/Physique du solide et de la Géologie. Depuis 1998, le CCM a le statut d’Instrument National en Microscopie Electronique de l’Institut National des Sciences de l’Univers (INSU/ CNRS).

Depuis sa création au début des années 1990, le CCM a acquis une solide réputation nationale et internationale en diffraction électronique, et organise chaque année une formation dans ce domaine. Le Centre a su par ailleurs développer de nombreux partenariats avec des entreprises locales, nationales et internationales. Il assure enfin un service de formation des nouveaux utilisateurs, et de prestations (d’expertises) auprès des laboratoires et entreprises pour les travaux limités dans le temps.

La caractéristique essentielle du CCM est de développer les aspects QUANTITATIFS  de la microscopie électronique dans les domaines suivants :

  • La micro(nano)-analyse chimique quantitative par spectrométrie en dispersion d'énergie X (EDS), avec une bonne détection des éléments légers
  • L'imagerie et la diffraction électronique en transmission (faisceau parallèle ou convergent) conventionnelles et/ou quantitatives (images filtrées, précession électronique).
  • L’analyse en spectroscopie de perte d’énergie d’électron (EELS)
  • La tomographie électronique avec reconstruction 3D, en contraste d’absorption ou composition (perte d'énergie)
  • La cathodoluminescence et la méthode EBIC
  • L'imagerie haute résolution en MEB-FEG (particulièrement à basse tension - 500V)

Parmi les nombreuses études réalisées au CCME, outre celles à caractère confidentiel, on peut citer par exemple celle menée au MET sur les échantillons cométaires de la mission STARDUST de la NASA (voir en 2006, le volume 314, numéro 5806, de la revue Science). Le MEB est lui aussi utilisé pour la caractérisation des microstructures dans les métaux, les verres et les céramiques, etc., par exemple dans le cadre du Pôle de compétitivité MAUD (Matériaux et Applications pour une Utilisation Durable).

Unité Matériaux et Transformations, CNRS UMR 8207, Université Lille1, Bâtiment C6, 59655 Villeneuve d'Ascq, France
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