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Centre commun de microscopie de Lille

Unité Matériaux et Transformations

Directeur : Paul Raterron

Réservations Système de réservations du CCME
Société Française des Microscopies
Groupement des Utilisateurs de Microscopes Electroniques Philips
CCM - Centre Commun de Microscopie de Lille

Centre commun de microscopie

Le Centre Commun de Microscopie (CCM) de l'Université Lille 1, plateau technique de la Fédération Chevreul (CNRS FR 2638), regroupe une grande partie des moyens en microscopie électronique de l'USTL. Depuis 1998, le Centre bénéficie du label « Instrument National » (INSU/CNRS) en Sciences de la Terre pour la microscopie électronique en transmission.

Nouvelles

MINTEM 2012

MINTEM 2012

La seconde édition de l'école MINTEM, dédiée à la microscopie électronique en transmission en minéralogie, organisée par la Société Française de Minéralogie et Crystallographie et le laboratoire UMET, s'est déroulée sur le campus de l'Université Lille 1 du 19 au 23 novembre 2012. Les six participants, venant d'Allemagne, Italie et France, ont pu profiter de séances de travaux pratiques le matin, sur le microscope TECNAI du Centre Commun de Microscopie de Lille et de cours et travaux pratiques l'après-midi. La prochaine édition de cette école se déroulera en 2014.

Pour plus d'information :

Ecole d’été du GN-MEBA

Affiche de l'école d’été du GN-MEBA, Villeneuve d'Ascq, du 1er au 6 juillet 2012

Le Centre Commun de Microscopie accueille du 1er au 6 juillet 2012 l’école d’été du Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de Microanalyses (GN-MEBA), en collaboration avec l’Ecole Centrale de Lille, l’Ecole des Mines de Douai, l’ENSCL, l’IEMN, Géosystèmes, et l’Université d’Artois. L’école formera une centaine de stagiaires venus de toute la France. Les travaux pratiques seront réalisés sur les MEB et microsondes du domaine universitaire de Lille 1 (dont ceux du CCM), auxquels s’ajoute une dizaine de machines installées pour l’occasion par les constructeurs. De nombreux chercheurs, enseignant-chercheurs, ingénieurs et techniciens des laboratoires associés au CCM participent à cette école en tant qu’organisateurs et/ou moniteurs.

Pour en savoir plus : contacter Paul Raterron ou suivre le lien vers la page de l'Ecole d'Eté de Microscopie Electronique à Balayage et de Microanalyses.

Ecole de tomographie en MET

Le CCM organise avec l’Institut de Chimie et des Matériaux de l’université Paris Est et la société GATAN la seconde formation en tomographie sur microscope électronique en Transmission.

La formation traitera des trois aspects fondamentaux : Acquisition des images, reconstruction. Les cours porteront sur les techniques de tomographie en TEM, EFTEM, STEM en mode classique, low dose et cryo.

Cette formation se fera dans les locaux de l’ICMPE à THIAIS du 30 novembre au 02 décembre 2010.

Découpe de Matériaux Extrêmes par Ultra Microtomie - Applications aux Microscopies

Le choix de la technique de préparation pour faire une analyse microscopique d’un matériau, par MEB, MET, AFM est très important. Il se fait en fonction de l’information recherchée. L’une des méthodes de préparation est l’ultra microtomie, maintenant bien établie en sciences de la vie. Pour les polymères, l’ultra-microtomie donne de bons résultats, mais qu’en est-il pour les matériaux durs (Minéraux, céramiques, métaux...) ?

Le laboratoire organisera une école du 12 au 14 Octobre 2010 pour montrer que tous les matériaux, et même les plus durs, peuvent être coupés par ultra-microtomie ou cryo ultra microtomie.

Les détails concernant cette formation sont disponibles ici.

Electron Diffraction From points to lines: A scientific celebration to Jean-Paul Morniroli

The Unité Matériaux et Transformations and Société Française des Microscopies invite you to a special scientific day in the honour of Jean-Paul Morniroli for its important contributions to electron microscopy and electron diffraction. The event will be held at the university of Lille on the 1st of July 2010.

Details on the event can be found on this page.

Groupe d’experts pour le projet d’achat du ou des futur(s) MET(s)

  • Chef de groupe Jean-François DHENIN
  • Marielle HUVE
  • Damien JACOB
  • Christine LANCELOT
  • Hughes LEROUX
  • Alexandre MUSSI

Anciennes nouvelles

Outils

  • Un microscope électronique en transmission (MET) FEI Tecnai G2 20 équipé d'une micro-analyse EDS, d'un filtre en énergie Gatan (EELS), de systèmes de précession et de tomographie électronique et d'une caméra CCD ORIUS.
  • Un microscope électronique en transmission (MET) Philips CM 30 (300 kV) équipé d’une micro-analyse EDS et de la précession électronique.
  • Un microscope électronique à balayage (MEB) Hitachi S4700 muni d'un canon à émission de champ (FEG), équipé d'un dispositif de micro-analyse EDS et de dispositifs de cathodoluminescence et EBIC (« electron beam induced current »).
  • Un microscope électronique à balayage (MEB) Fei Quanta 400 équipé de détecteurs classiques d'électrons secondaires et d’électrons rétrodiffusés d'une part, mais également d'un détecteur EDX et d’un détecteur EBSD.
  • Deux AFM Multimode SPM (DI Digital Instrument – Veeco) et deux AFM Dimension 3100 AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Une microsonde électronique CAMECA SX 100.
  • Un atelier de préparation des échantillons, disposant d’une large gamme de techniques

Personnels associés

Centre commun de microscopie de Lille
Unité Matériaux et Transformations
Université Lille1
Bâtiment C6
59655 Villeneuve d'Ascq
France
 
FEI Tecnai G2 20
Unité Matériaux et Transformations, CNRS UMR 8207, Université Lille1, Bâtiment C6, 59655 Villeneuve d'Ascq, France
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