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Centre commun de microscopie de Lille

Unité Matériaux et Transformations

Directeur : Damien Jacob

Réservations Système de réservations du CCME
Société Française des Microscopies
Groupement des Utilisateurs de Microscopes Electroniques Philips
CCM - Centre Commun de Microscopie de Lille

Centre commun de microscopie

Le Centre Commun de Microscopie (CCM) de l'Université Lille 1, plateau technique de la Fédération Chevreul (CNRS FR 2638), regroupe une grande partie des moyens en microscopie électronique de l'USTL. Depuis 1998, le Centre bénéficie du label « Instrument National » (INSU/CNRS) en Sciences de la Terre pour la microscopie électronique en transmission.

Dernières nouvelles

Février 2017 - Dernières nouvelles de Titan
Dernières nouvelles de TitanLe nouveau microscope électronique à transmission (Titan Thémis FEI) est installé depuis cet été dans la Halle CISIT. Le microscope fonctionne maintenant pour toutes ses configurations et aux résolutions nominales pour toutes les tensions d'accélérations:
  •     correcteur de sonde pour la résolution atomique,
  •     EDS 4 cadrans pour l’analyse chimique,
  •     monochromateur et Dual – EELS pour la haute résolution spectrale,
  •     tomographie, etc....
Vous trouverez ici quelques résultats enthousiasmants obtenus dans différents domaines, allant de la chimie catalytique à l'analyse de météorites martiennes.
 
Octobre 2016 - Demi-Journée thématique des Fédérations de Recherche FRABio et Chevreul le mercredi 23 novembre 2016, amphithéâtre Appert, PolyTech’Lille
Demi-Journée thématique des Fédérations de Recherche FRABio et Chevreul le mercredi 23 novembre 2016, amphithéâtre Appert, PolyTech’Lille

Les Sciences du Vivant et les Sciences des Matériaux utilisent de nombreuses technologies d’analyse communes telles que la spectrométrie de masse, la RMN, la cristallographie des rayons X, ainsi que la microscopie électronique.
 
Ces dernières années ont vu la constitution sur le campus de l’Université de Lille « Sciences et Technologies » d’un parc moderne d’instruments en microscopie électronique en transmission (MET) dont les hautes performances sont complémentaires et font l’objet d’interactions croissantes et d’échanges de compétences entre les personnels des plateformes des deux fédérations.
 
Cette matinée vise à mieux informer les usagers des deux communautés scientifiques sur l’existence de ce parc matériel et de ses possibilités, ainsi qu’à favoriser les échanges entre chercheurs, enseignants-chercheurs, personnels techniques, etc.., des Sciences du Vivant et des Sciences des Matériaux.
 
Au cours de cette matinée, vous seront présentées  les deux plateformes de microcopie électronique du campus de l'Université de Lille "Sciences et Technologies", avec de multiples exemples d’applications dans leurs domaines respectifs. Ces présentations seront suivies de 2 conférences animées par des orateurs de renommées internationales, illustrant des possibilités ultimes de chacune des deux disciplines.
 
La participation à cette demi-journée est gratuite mais l’inscription est obligatoire afin que nous puissions en assurer la logistique (réponse avant le 23 octobre).
 
Vous trouverez ici le lien vous permettant de vous inscrire
 
Dominique Legrand et Guy Buntinx, directeurs des Fédérations FRABio et Chevreul

 
Février 2016 - Installation du nouveau MET TITAN du CCM
Installation du nouveau MET TITAN du CCM

Notre nouveau MET analytique META FEI Titan3 Themis 300 est arrivé! Cet instrument, à la pointe de la recherche européenne, offrira un gain de résolution spatiale et énergétique pour les observations en microscopie électronique en transmission. Le champ d'applications attendues couvre toutes les thématiques de l'institut Chevreul, de la chimie du solide à la minéralogie de la terre profonde, en passant par des applications industrielles dans le domaine de la métallurgie et des verres.

Son arrivée est le résultat d'un projet de longue haleine, financé par la région Nord-Pas-de-Calais, le FEDER, et le CNRS. Son installation sur le campus de Lille 1 a commencé et se fait actuellement dans des nouveaux locaux contruits par l'université au sein de la nouvelle Halle CISIT.

Le microscope est doté de :
- Une source à effet de champ du type Schottky (FEG) haute brillance (XFEG) avec un monochromateur pour une  résolution en énergie ultime (0.2 eV).
- Une Tension d’accélération ajustable de 60 kV à 300 kV.  
- Un Correcteur d’aberration sphérique Cs en sonde (DCOR) pour l’imagerie haute résolution en mode STEM (< 70 pm).
- Une lentille objectif (S-TWIN) haute résolution avec une distance entre les pièces polaire de 5,4 mm qui offre un angle d’inclinaison de 70 degrés avec un porte-objet tomographique.
- Un CompuStage avec une platine piezo pour une excellente stabilité du porte-échantillons.
- Un détecteur EDX Super-X avec une sensibilité supérieure pour réaliser des cartographies chimiques très rapides. Quatre détecteurs SDD  sont intégrés dans la lentille objectif (S-TWIN)
- Un filtre d’énergie haute résolution post-colonne GATAN (Quantum ERS/966) avec un systeme
- DualEELS pour l'acquisition simultannée des pertes à basse et haute energies.
- Une caméra CETA 16M pour un champ visuel de l’image très étendu. 

Un porte-objet tomographique tri-axe (HATA) est également disponible.

La mise en service du microscope est programmée pour avril 2016!
 
Décembre 2015 - Un nouveau MEB low vacuum au CCM!
Un nouveau MEB low vacuum au CCM!

Le CCM vient de s'équiper d'un nouveau microscope à balayage. Il s'agit d'un JEOL JSM-7800F LV doté d’une source FEG. Il associe la résolution spatiale sub-nanométrique à des capacités analytiques nanométriques en EDS et la possibilité de travailler en vide dégradé.

 

        Caractéristiques

  • Source à émission de champ assistée thermiquement de type SCHOTTKY in lens qui permet une stabilité de courant
  • Tension d'accélération allant de 10 V à 30 kV.
  • Possibilité de travailler avec une pression dégradée de 10 à 300 Pa (mode LV " Low Vaccum ").
  • Courant de sonde continu de 1 pA à 500 nA.
  • Résolution spatiale : 0,8 nm à 15 kV, 1,2 nm à 1 kV et 1,5 nm à 15 kV sous 50 Pa de pression dans la chambre.
  • Observation possible d’échantillons de 100 mm de diamètre et de 40 mm de haut.

      

       Equipements

  • Détecteurs d’électrons secondaires et rétrodiffusés dans la chambre, dans la colonne (in-lens) et en mode " Low Vaccum ".
  • Système d’observation en mode transmission d’échantillons minces (STEM),
  • Système couplé EDS/EBSD AZtec de la société Oxford Instruments (spectromètre SDD de 80 mm2 et caméra EBSD hkl Nordlys Max2 ) qui permet également de réaliser des analyses EBSD sur échantillons minces (TKD).

 

 
Novembre 2015 - Crystelec2015
Crystelec2015

La première édition de l’école Crystelec soutenue par la Sfmu et l’AFC s’est tenue du 16 au 20 novembre 2015 à l’Université Lille 1, réunissant dix sept participants. La formation portait sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique. Les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et/ou d’analyse des données telle que la précession, le faisceau convergent, la tomographie et la cartographie d'orientation y ont été présentés. Les sessions pratiques se sont déroulées sur le Tecnai 20 du Centre Commun de Microscopie récemment équipé du système de cartographie d’orientation ASTAR (Nanomegas).

Nous remercions chaleureusement nos soutiens et institutions pour avoir contribué au bon déroulement de cette école.

Pour plus de détails :

 
Novembre 2014: MINTEM 2014
Novembre 2014: MINTEM 2014

Outils

  • Un microscope électronique en transmission (MET) FEI Tecnai G2 20 équipé d'une micro-analyse EDS, d'un filtre en énergie Gatan (EELS), de systèmes de précession et de tomographie électronique et d'une caméra CCD ORIUS.
  • Un microscope électronique en transmission (MET) Philips CM 30 (300 kV) équipé d’une micro-analyse EDS et de la précession électronique.
  • Un microscope électronique à balayage (MEB) JEOL JSM-7800F LV muni d'un canon à émission de champ (FEG), capable de travailler en vide dégradé et équipé d'un couplage micro-analyse EDS / caméra EBSD.
  • Un microscope électronique à balayage (MEB) Hitachi S4700 muni d'un canon à émission de champ (FEG), équipé d'un dispositif de micro-analyse EDS et de dispositifs de cathodoluminescence et EBIC (« electron beam induced current »).
  • Un microscope électronique à balayage (MEB) Fei Quanta 400 équipé de détecteurs classiques d'électrons secondaires et d’électrons rétrodiffusés d'une part, mais également d'un détecteur EDX et d’un détecteur EBSD.
  • Deux AFM Multimode SPM (DI Digital Instrument – Veeco) et deux AFM Dimension 3100 AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Une microsonde électronique CAMECA SX 100.
  • Un atelier de préparation des échantillons, disposant d’une large gamme de techniques

Personnels associés

Centre commun de microscopie de Lille
Unité Matériaux et Transformations
Université Lille1
Bâtiment C6
59655 Villeneuve d'Ascq
France
   
TITAN THEMIS
 
FEI Tecnai G2 20
Unité Matériaux et Transformations, CNRS UMR 8207, Université Lille1, Bâtiment C6, 59655 Villeneuve d'Ascq, France
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