Microscopie à Force Atomique (AFM)

• Multimode AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Microscope :
    • MultiMode SPM Microscope 
    • 2 types de scanners: 10 µm x 10 µm et 120µm x 120 µm (x-y images) avec 4 µm en imagerie verticale (rugosité)
  • Controller : Nanoscope IIIa
  • Accessoires :
    • Caméra CCD couleur: 450x 
    • Module de Température (de l’ambiante à 250°C)
• Multimode AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Mode : Contact
  • 1 scanner, 150µm x 150 µm (x-y images), 5.5 µm en imagerie verticale (rugosité)
• Dimension 3100 AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Microscope :
    • Tête Dimension™ SPM 
    • 90µm x 90 µm x-y images avec 6 µm en imagerie verticale (rugosité)
  • Controller : Nanoscope IIIa
  • Accessoires :
    • Table anti-vibration et anti-acoustique qui permet d’avoir un niveau de bruit < 0.5Å RMS en résolution verticale (Z)
    • Porte-échantillons: Chuck standard de 150 mm.
    • Platine de déplacement motorisée (x,y): Zone sondée 125mm x 100mm; Résolution 2µm 
    • Microscope optique: Zone de 150µm à 675µm observable, zoom et focus motorisés, résolution 1.5µm, capture d’image vidéo
  • Mini machine de déformation :
    • Vitesses de déformation accessibles : 0.001 mm/min à 1 mm/min
    • Température de travail : 20°C
    • Capacité maximale : 100 N
• Dimension 3100 AFM (DI Digital Instrument – Veeco)
  • Mode : Tapping /contact
  • Scanners :
    • 90µm x 90 µm x-y images
    • 6µm en imagerie verticale (rugosité)
  • Accessoires :
    • Table anti-vibration
    • Porte-échantillons: Chuck standard de 150 mm.
    • Platine de déplacement motorisée (x,y): Zone sondée 125mm x 100mm.
    • Mode MFM